O naší laboratoři
Referenční laboratoř vznikla na Fakultě elektrotechnické ČVUT v roce 2023 jako součást mezinárodního projektu TACOM. V rámci tohoto projektu spolupracuje skupina prof. Bohuslava Rezka na katedře fyziky s firmou NenoVision na výzkumu a vývoji nových metod korelativní mikroskopie s pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM) a rastrovacího elektronového mikroskop (SEM). Kombinace obou metod je označována jako correlative probe-electron microscopy (CPEM). Tato metoda propojuje signál z mikroskopů AFM a SEM do výsledného komplexního souboru dat a jeho obrazové vizualizace korelující vybrané morfologické, chemické, mechanické, elektrické a magnetické vlastnosti. Aplikace této metody sahají od přírodních věd po analýzu polovodičů a nanomateriálů. Referenční laboratoř slouží pro demonstraci a testování měření v režimu CPEM. Mimo tyto mikroskopy se v laboratoři nachází i přístroje pro další korelativní měření, kterými je mutifunkční mikrospektrometr, který obsahuje Ramanův spektrometr, fotoluminiscenční spektrometr, mikroskop atomárních sil, Kelvinovskou mikroskopii a skenovací optický mikroskop blízkého pole (SNOM). Dále využíváme skenovací Kelvinovu sondu (SKP) a ambientní fotoemisní spektroskopii (APS). Referenční laboratoř je otevřena pro všechny zájemce o tato měření, v případě zájmu využijte kontaktní formulář.
Zajímavé výsledky
ZnO nanojehličky s bakteriemi
uspořádání molekul léčiva povrchovým dipólem
bakterie obalené nanodiamanty se stříbrem
self-sensing sonda na registrační mřížce
Související publikace
[1] Correlative atomic force microscopy and scanning electron microscopy of bacteria-diamond-metal nanocomposites. [https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2023.113909]
[2] AFM-in-SEM analyses of thiorphan assembly on ZnO polar and nonpolar surfaces. [https://doi.org/10.37904/nanocon.2023.4761]
[3] Correlative probe microscopy analysis of plasma-treated gallium-doped zinc oxide nanorods. [https://doi.org/10.37904/nanocon.2023.4762]
[4] AFM-in-SEM analysis on heterostructure edges of graphene and hexagonal boron nitride. [https://doi.org/10.37904/nanocon.2023.4810]
Jak funguje metoda CPEM?
Korelativní mikroskopie spojující AFM a SEM (CPEM) využívá výhod obou těchto metod pro získání komplexnějšího pohledu na zkoumaný vzorek. Pomocí AFM můžeme získat velmi přesnou 3D mapu výškového profilu povrchu a dalších informací v pokročilých režimech mikroskopie atomárních sil. SEM nám poskytuje rychlý náhled na morfologii povrchu a další informace o lokálních elektronických vlastnostech a složení vzorku včetně chemických skupin na povrchu. Zároveň nám napomáhá rychleji najít oblast vhodnou pro detailní zkoumání. Vybraná oblast je pak snímaná oběma přístroji zároveň (a tudíž i za stejných podmínek) a výsledkem jsou komplexní korelovaná data, který mapují různé vlastnosti dané části vzorku a zviditelňují jejich vzájemné souvislosti. Více o metodě se můžete dozvědět přímo na stránkách firmy NenoVision.
Projekt TM03000033
Kontakt
Formulář pro demonstraci a testování metody CPEM na vlastních vzorcích naleznete zde:
Kde nás najdete?
Katedra fyziky, FEL ČVUT, Technická 2, 160 00, Praha 6